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洋書 Design and Test for Multiple Gbps VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testabilityの詳細情報
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability。IBM - Paul Rand's Graphic Standards Manual – Yvon Lambert Paris。IBM - Paul Rand's Graphic Standards Manual – Yvon Lambert Paris。Amazon.co.jp: Microprocessors & System Design: 洋書: Computer。ペーパーバック洋書．天に少シミがあります．書き込みはなく，使用感少ないです．高速 伝送 テスト 試験 設計 ジッタ ジッター アイパターン 特性 評価 シグナル インテグリティ 物理層 high speedDesign and Test for Multiple Gbps Communication Devices and Systems
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